Entwicklung einer Analogieprüftechnologie zur Beurteilung des Verschleiß- und Zerspanverhaltens von PVD-Hartstoffschichten

Die aktuell eingesetzte Schichtanalytik liefert oft keine ausreichende Korrelation zu realen Zerspanversuchen, da die genutzten Prüfparameter nur selten den realen Belastungsbedingungen im Einsatz entsprechen. Das Ziel besteht in der Entwicklung von Modellverschleiß- und Belastungsanalysen und Testsystemen zur Erstellung von Korrelationen zwischen unterschiedlichen Belastungsprofilen beim Zerspanen.